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圖像 型號(hào) 品牌 描述 單價(jià) 封裝 系列 PDF資料
SN74LVTH18502APM SN74LVTH18502APM Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP 面議 64-LQFP 74LVTH PDF資料
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SN74LVTH18502APMG4 SN74LVTH18502APMG4 Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP 面議 64-LQFP 74LVTH PDF資料
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SN74LVTH18504APMG4 SN74LVTH18504APMG4 Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP 面議 64-LQFP 74LVTH PDF資料
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SN74LVT8986ZGV SN74LVT8986ZGV Texas Instruments IC LINK ADDRSS SCAN-PORT 64-BGA 面議 64-LFBGA 74LVT PDF資料
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MC100EP16TDTG MC100EP16TDTG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF 5V 8TSSOP 面議 8-TSSOP,8-MSOP(0.118",3.00mm 寬) 100EP PDF資料
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MC100EP16VTDTG MC100EP16VTDTG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF VAR 8TSSOP 面議 8-TSSOP,8-MSOP(0.118",3.00mm 寬) 100EP PDF資料
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MC10EP16TDTG MC10EP16TDTG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF 5V 8TSSOP 面議 8-TSSOP,8-MSOP(0.118",3.00mm 寬) 10EP PDF資料
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NB7VPQ16MMNHTBG NB7VPQ16MMNHTBG ON Semiconductor IC CML DVR PRE-EMPH 1CH 16-QFN 面議 16-VFQFN 裸露焊盤 - PDF資料
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NB7VPQ16MMNG NB7VPQ16MMNG ON Semiconductor IC CML PRE-EMPH DRIVER 16QFN 面議 16-VFQFN 裸露焊盤 - PDF資料
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SN74BCT8373ADW SN74BCT8373ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 面議 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74BCT PDF資料
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MC10E116FNG MC10E116FNG ON Semiconductor IC LINE RCVR QUINT ECL 5V 28PLCC 面議 28-LCC(J 形引線) 10E PDF資料
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MC100E116FNG MC100E116FNG ON Semiconductor IC LINE RECEIVER QUINT 28-PLCC 面議 28-LCC(J 形引線) 100E PDF資料
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MC10E416FNG MC10E416FNG ON Semiconductor IC LINE RCVR QUINT DIFF 28-PLCC 面議 28-LCC(J 形引線) 10E PDF資料
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SN74SSTVF32852KR SN74SSTVF32852KR Texas Instruments IC BUFFER 24BIT-48BIT 114LFBGA 面議 114-LFBGA 74SSTVF PDF資料
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SN74SSTVF32852KR SN74SSTVF32852KR Texas Instruments IC BUFFER 24BIT-48BIT 114LFBGA 面議 114-LFBGA 74SSTVF PDF資料
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MC100EP16TDG MC100EP16TDG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF 5V 8SOIC 面議 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬) 100EP PDF資料
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MC100EP16VTDG MC100EP16VTDG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF VAR 8SOIC 面議 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬) 100EP PDF資料
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MC10EP16TDG MC10EP16TDG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR ECL DIFF 5V 8SOIC 面議 8-SOIC(0.154",3.90mm 寬) 10EP PDF資料
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MC100EP17DTR2G MC100EP17DTR2G ON Semiconductor IC RCVR/DRV ECL QUAD DFF 20TSSOP 面議 20-TSSOP(0.173",4.40mm 寬) 100EP PDF資料
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NB100LVEP17DTR2G NB100LVEP17DTR2G ON Semiconductor IC DRV/RCV ECL QUAD DIFF 20TSSOP 面議 20-TSSOP(0.173",4.40mm 寬) 100LVEP PDF資料
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NB100LVEP17MNR2G NB100LVEP17MNR2G ON Semiconductor IC DRVR ECL QUAD 2.5V/3.3V 24QFN 面議 24-VFQFN 裸露焊盤 100LVEP PDF資料
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MC10EP17DTR2G MC10EP17DTR2G ON Semiconductor IC RCVR/DRVR QUAD DIFF 20-TSSOP 面議 20-TSSOP(0.173",4.40mm 寬) 10EP PDF資料
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MC100EP17MNTXG MC100EP17MNTXG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR QUAD DIFF ECL 20QFN 面議 20-VFQFN 裸露焊盤 100EP PDF資料
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MC10EP17MNTXG MC10EP17MNTXG ON Semiconductor IC RCVR/DRVR QUAD DIFF ECL 20QFN 面議 20-VFQFN 裸露焊盤 10EP PDF資料
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SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 面議 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74BCT PDF資料
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SN74BCT8244ADWE4 SN74BCT8244ADWE4 Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 面議 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74BCT PDF資料
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SN74BCT8245ADW SN74BCT8245ADW Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC 面議 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74BCT PDF資料
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MC10EP17DWR2G MC10EP17DWR2G ON Semiconductor IC RCVR/DRVR QUAD ECL DFF 20SOIC 面議 20-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 10EP PDF資料
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SN74LVT8996DW SN74LVT8996DW Texas Instruments IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24-SOIC 面議 24-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74LVT PDF資料
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SN74ACT8997DW SN74ACT8997DW Texas Instruments IC SCAN-PATH LINKER 28-SOIC 面議 28-SOIC(0.295",7.50mm 寬) 74ACT PDF資料
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